第 7 章：第一次量測
本章目標：完成你的第一組可用量測——左聲道、右聲道、超低音。
⚠️ 本章的參數依 REW 官方說明文件整理（來源見章末），未附實機截圖。
0.52 7.1 量測前的三個確認
- 環境安靜：關冷氣、關抽風、避開洗衣機與交通尖峰。 REW 會顯示噪訊底層（noise floor），量測前先看一眼。
- 麥克風固定在腳架上，位置＝你實際坐著時耳朵的高度與位置。
- 校正檔已載入，擺法與校正檔一致（第 6 章）。
0.53 7.2 四個關鍵參數
0.53.1 （1）頻率範圍 Start／End Frequency
設定你想看的範圍即可。官方有一個容易被忽略的細節：
實際掃頻的範圍會比你設的更寬——大約從起始頻率的一半掃到終止頻率的兩倍， 目的是確保設定範圍內的準確度。
實務建議：房間校正設 20Hz–20kHz 就好，不需要特別調整。
0.53.2 （2）訊號音量 Signal Level
官方預設為 -12 dBFS，一般最大用到 -3 dBFS。
- 太小 → 訊噪比不足，低頻資料不可靠
- 太大 → 削波（clipping），資料失真
兩個原則：
- 看 REW 顯示的 measurement headroom（距離削波還有多少餘裕）
- ⭐ 多次量測之間務必維持相同音量，否則彼此無法比較—— 這對 FF 的多點量測尤其重要
⚠️ 官方明確警告：如果削波超過樣本的 30%，或超出 SPL 上限，應中止量測。
0.53.3 （3）掃頻長度 Sweep Length
官方預設 256k samples，適用多數用途。
| 長度 | 效果 |
|---|---|
| 長度加倍 | 訊噪比改善約 3dB |
| 1M | 建議記憶體 4GB 以上 |
| 4M | 建議記憶體 8GB 以上 |
⚠️ 官方對喇叭量測有明確警告： 不建議用很長的掃頻量喇叭，因為高音單體有過熱風險。
實務建議：房間校正用 256k 就夠。 環境比較吵時可以加長一階，但不要無限制加長——你的高音單體會謝謝你。
0.53.4 （4）Timing Reference（時間參考）— USB 麥克風的重點
這是 USB 麥克風使用者最容易卡住的地方。官方提供三種選擇：
| 選項 | 說明 | 適合 |
|---|---|---|
| No reference | 由你決定 t=0 放在哪（脈衝峰值／脈衝起點／延遲估計） | 單一喇叭的響應量測，不需要跨聲道時間比較 |
| Loopback reference | 輸出接回輸入當參考，可補償迴路本身的響應 | 輸入輸出是同一個裝置時 |
| Acoustic reference | 用一支高頻喇叭當時間基準，消除傳播延遲，讓多次量測時間一致 | 需要跨量測比較時間時 |
⚠️ 兩個官方警告，USB 麥克風使用者必看：
- Acoustic reference 不能搭配多次掃頻平均
- 輸入與輸出在不同裝置時，不要使用多次掃頻（USB 麥克風正是這種情況）
官方還補了一句很務實的話： 如果多次掃頻的結果與單次掃頻差很多，那就乖乖用單次掃頻。
⭐ 給 UMIK 使用者的結論： 輸出走 AVR／DAC、輸入走 USB 麥克風＝兩個不同時鐘。 用單次掃頻，timing reference 依需求選 No reference 或 Acoustic reference， 不要用多次掃頻平均。
0.54 7.3 量測順序
① 左聲道（單獨）
② 右聲道（單獨）
③ 左右一起（檢查中央合成）
④ 超低音（單獨）
⑤ 主喇叭 + 超低音（檢查銜接）為什麼要分開量：
- ①② 用來看左右一致性（第 2 章講過，這比單聲道平坦度更影響空間感）
- ③ 與 ①② 比對，可以看出中央合成有沒有抵消
- ④⑤ 是專章 B 調整超低音相位的依據——沒有這兩筆就無法判斷相位對不對
⚠️ 每一筆都要在同一個麥克風位置、同一個音量，否則沒有比較基礎。
0.55 7.4 多點量測：FF 使用者的關鍵
單點量測只能代表那一個點。FF 吃的是多點資料，因為它要修的是一個區域。
0.56 7.5 量完之後先看什麼
不要急著匯出。 先做三個檢查：
- 噪訊底層：低頻的量測值有沒有被環境噪音淹沒
- 左右一致性：兩條曲線的整體走向像不像
- 有沒有明顯異常：某一筆特別怪 → 通常是麥克風被碰到、或量測時有聲響
⭐ 發現任何一筆可疑就重量那一筆。 多點量測的品質取決於最差的那一筆，不是平均。
0.58 本章重點整理
- 掃頻範圍設 20Hz–20kHz 即可，REW 實際會掃得更寬。
- 音量預設 -12 dBFS；跨量測維持一致比追求大聲重要。
- 掃頻長度 256k 夠用，過長掃頻有高音單體過熱風險（官方警告）。
- USB 麥克風＝輸入輸出不同裝置 → 用單次掃頻，不要多次平均（官方警告）。
- 分開量左、右、超低音，是後面判斷左右一致性與相位的必要素材。